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易發三劍出鞘 大動作搶單

新聞發生日期:2017-09-13 |  相關公司:易發精機 |  瀏覽人數:186

易發精機(6425)去年推出晶圓瑕疵檢測設備及UV De-Bonder,以一年時間證實產品通過市場考驗;今年新上市FOUP自動封包機也獲得晶圓代工廠認證採用,未來伴隨市場成長,接單可期。
半導體製程進步快速,且產業的特性是,只要開發出好產品,即使是新進業者也有可能一夕爆紅,帶動營收一飛衝天。易發成立20多年,過去在面板設備領域經驗豐富,雖為半導體設備業新軍,卻成功以三項新設備翻轉既有的產品結構,今年第二度參加半導體展,為展場最大亮點。
易發的晶圓瑕疵檢測設備用於晶圓廠的出貨前產品檢驗,以及封測廠進貨前的品質驗證,估計國內年需求量逾200台。過去市場由Rudolph、Camtek等外商寡占,其設備功能強,瑕疵檢出率高,但價格也偏高;易發的晶圓瑕疵檢測設備配備強大的影像處理系統,具有卓越的瑕疵檢測能力,以及Macro/ Micro/ Edge Inspection功能,應用於晶圓製程檢驗及成品出入料檢驗,取得相對優勢。
易發的UV De-Bonder為晶圓封測廠的特殊產品而開發,在封測製程後進行UV膠解離,可將玻璃與晶圓分離,完整移除玻璃載體及清除膠膜,無殘留,也不會造成晶圓破裂、裂痕及BGA殘缺,保持產品的完整性;已通過封測大廠認可及下單,去年第4季完成交機。
針對8吋廠開發的FOUP自動封包機,可對應各種鋁袋及靜電袋,開口密封緊實,包裝美觀,可自動進出料口及配合廠內自動化,具備讀貼標的功能,防止錯料。易發表示,未來計畫朝向製程檢驗邁進,第二代晶圓檢測設備能檢測更細微瑕疵,並提升檢出率及速度,其他產品也將同步升級。<摘錄經濟>
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